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Ophir激光功率能量计探头
BeamPeek高功率光束分析仪1
BeamPeek高功率光束分析仪2
BeamPeek高功率光束分析仪3
BeamPeek高功率光束分析仪4

BeamPeek高功率光束分析仪

  BeamPeek 系统可实现实时光束轮廓分析,包括焦点尺寸和位置监控,以及增材制造 (AM) 激光器在绿光和近红外范围内的光束焦散和功率测量。它跟踪这些参数如何随时间变化,以帮助维护制造零件的质量和可重复性。BeamPeek 集成了激光光束分析仪相机、功率计、光束收集器、分束器和光学器件,为工业环境中的增材制造激光分析提供全包解决方案。

  BeamPeek 软件专为满足增材制造行业现场技术人员的需求而开发。它可以用最少的用户输入测量增材制造的基本参数。

  BeamPeek 允许在 1kW 下进行长达 2 分钟的连续测量,采用被动冷却,无需通过可互换的束流收集盒使用风扇或水/空气冷却。其工业设计使其可以轻松集成到生产线中并在不干扰生产过程的情况下进行激光特性分析。

  一、BeamPeek特征

  ● 焦点尺寸

  ● 校准焦点位置以构建平面

  ● 激光功率

  ● 激光功率密度

  ● 光斑尺寸和功率随时间的变化

  二、BeamPeek产品规格

型号BeamPeek
光谱范围532 nm, 1030-1080 nm
最小光斑尺寸34.5 µm
功率范围10-1000 W
焦距150-800 mm
功率计校准NIST traceable calibration ±3%
光束轮廓SO 11146 Measurements
CE 符合性yes
UKCA 符合性yes
中国 RoHS 符合性yes