如今，增材制造(AM)已经在工业规模上得到应用，可以用于打印原型，因此制造出的零件质量和工艺的可重复性变得至关重要。影响AM产品质量的一个关键因素是激光和光学组件的状态。为了确保正确运行、优化系统性能并防止潜在的质量问题，激光和光学系统需要定期监测，特别是在工业环境中。
最常见的故障：激光功率降低、由于光学部件污染导致的剖面畸变以及热透镜效应，这会导致焦点偏移和焦斑放大。所有这些问题都可能阻碍粉末颗粒之间的熔合，导致产品质量降低和再现性减弱。
Ophir提供专为AM工作室设计的仪器
一、BeamWatch AM
基于瑞利散射，提供无接触、实时的整个光束传播特性表征。功率测量是通过一个集成的风冷热传感器进行的。风扇只在BeamWatch AM从工作室中取出后运行，以避免扬起金属粉末。
二、BeamPeek
用经典的光束剖面测量方法，结合在AM工作室内移动构建平面进行焦斑测量。激光功率通过一个集成的热传感器进行测量。特殊的专利光束排放器不需要主动冷却，并且可进行更换。
三、BeamPeek和BeamWatch AM 比较
那么，那种适合你的AM工作室的理想光束特性仪器呢?无论选择BeamWatch AM还是BeamPeek，取决于的分析方法和应用。
BeamWatch AM一次性从侧面测量整个光束焦斑，而BeamPeek需要手动移动构建平面，逐层进行准确的焦斑测量。这意味着如果应用需要整体光束特性的同时测量和实时焦点偏移监测，BeamWatch AM将更适合，而对于在光束传播的不同横截面上进行更准确的测量，BeamPeek是首选。
此外，BeamWatch AM需要压缩空气/气体冲洗，既用于其操作，也用于保护免受金属粉末颗粒的影响，而BeamPeek不需要压缩空气，并且其被动光束排放器可进行更换，缩短测量之间的时间间隔。
深圳市博纳德精密仪器有限公司经营的产品有：Ophir激光功率计、Ophir光束质量分析仪、Scitec光学斩波器、SRS放大器、Femto电流放大器、Femto电压放大器、Femto光电探测器、Femto锁相放大器、脉冲发生器、AA Lab Systems放大器/信号调节器等其它设备，如有需要可以联系我们。
